浙江电子测试技术股份有限公司

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电子测试元器件检测筛选中心成立于2015年。拥有实验场地4000平方米,获得CNAS、GJB 2725A、资质认定以及武器装备承制资格,各种专业检验检测仪器设备150余台套,其中包括AdvanTest SOC芯片测试系统、北京华峰测控 混合信号测试系统、Chroma DC/DC测试系统等先进进口测试设备以及业内认可度较高的测试仪器仪表,是专业从事电子元器件测试、筛选、及相关技术服务的实验室。

实验室拥有一支多年专业从事电子元器件检验检测研究的技术团队,其中技术开发工程师20余名,试验人员30余人,目前累计完成各类电子元器件测试程序1.5万余种。检测筛选电子元器件类型包括:电子元件(电阻、电容、电阻网络、电感、继电器等)、半导体分立器件(二极管、三极管、场效应管、可控硅、晶体振荡器、光电耦合器、二极管堆、晶体管阵列等)、混合集成电路(DC/DC)、电源类(线性稳压器、电源监控器、电源管理、PWM控制器等)、驱动器、通用模拟器件(运算放大器、电压比较器、跟随器系列、采样保持器等)、模拟开关与多路复用器、中小规模数字电路(4000系列、54系列、74系列)、数据转换器(A/D、D/A)、存储器系列(EPROM、EEPROM、SRAM、DRAM、FLASH等)以及总线接口类(RS-232、RS-422/485、LVDS、CAN等)。

现行有效标准覆盖GJB 548B-2005、GJB 360B-2009、GJB 128A-1997、GB/T 17574-1998 等试验及测试方法等国军标50余套。试验项目覆盖元器件二次筛选试验项目:外观目检、高温贮存、三温测试(常温、高温、低温)、温度循环、热冲击、温度冲击、检漏、噪声检测(PIND)、扫频振动、恒定加速度、高温老炼、高温反偏、稳态工作寿命等。通过电子元器件二次筛选激发电子元器件潜在设计、生产缺陷,有效剔除早期失效产品,提高整机系统的可靠性。








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